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產(chǎn)品分類
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1497產(chǎn)品描述
800高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
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1565產(chǎn)品描述
1000高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
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2040產(chǎn)品描述
1200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
產(chǎn)品型號(hào)
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2282產(chǎn)品描述
1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號(hào)
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1864產(chǎn)品描述
200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測(cè)量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測(cè)量.
當(dāng)前位置：
